行业动态 市场趋势 新品发布 客户案例 厂商动态 实时热评 基础知识 技术资讯
随着半导体技术的不断进步,芯片的集成度与复杂性逐年提升,促使对测试设备的需求也愈发急迫。单颗芯片测试探针台(single die prober platform)作为半导体制造和测试过程中的关键设备,其性能直接影响到芯片的生产效率和质量。
搜 索
热门标签
热门文章
> 光电显示解决方案
> 医疗器械产品服务案例
> 少儿编程教育一站式开发
> 解决智能穿戴设备物料采购
> 汽车灯组控制系统
热门型号
EPM570T144I5N 托盘
品牌:ALTERA(阿尔特拉)
EPM570T144I5N
封装/规格:TQFP-144_20x20x05P我要选购
EPM3032ATC44-10N 托盘
EPM3032ATC44-10N
封装/规格:TQFP-44_10x10x08P我要选购
EF1A650LG100 托盘
品牌:Anlogic(安路科技)
EF1A650LG100
封装/规格:LQFP-100我要选购
10M02DCV36C8G 编带
10M02DCV36C8G
封装/规格:WLCSP-36我要选购
EP4CE15F17C8N 托盘
EP4CE15F17C8N
封装/规格:FBGA-256我要选购
在线客服
服务时间: 周一至周六 9:00 - 18:00
QQ客服
1584878981
客服热线
400-618-9990 / 13621148533
官方微信
关注微信公众号