老炼试验系统
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产品概述
IC 事业部已承接几十套芯片的老炼试验系统，与 502 所长寿命试验中心、物资部、58 所等多家单位合作，使用银河 SE600-15 恒温箱、银河 WG300P 高低温箱等设备进行试验，具有丰富的老炼试验系统开发与试验经验。
应用情况
试验案例 | ||
芯片 | 测试数量 | 试验条件 |
CMV4000 | 229 | 70℃，240h |
10 | 70℃，1000h | |
229 | -30℃ /70℃，3h | |
YK28F256KV
| 871 | 125℃，240h |
871 | 150℃，72h | |
871 | -55℃ /125℃，3h | |
A3PE3000L | 10 | 85℃，1000h |
YK1013Q | 374 | 125℃，240h |
374 | 150℃，72h | |
YKSoC2012 | 435 | 125℃，240h |
435 | 150℃，72h | |
STAR1000 | 239 | 70℃，240h |
YK6664RH | 564 | 125℃，240h |
564 | 150℃，72h | |
YK8R1M40 | 220 | 125℃，240h |
220 | 150℃，72h | |
220 | -55℃ /125℃，3h | |
YKP6117S | 66 | 125℃，240h |
66 | 150℃，72h | |
66 | -55℃ /125℃，3h | |
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